이영우 전남대 컴퓨터정보통신공학과 교수팀이 '한국테스트학술대회'에서 삼성전자 후원 최우수논문상과 우수논문상을 동시에 수상했다.
지난 6월 27일 열린 제24회 한국테스트학술대회에는 반도체 관련 산학계 848명이 참석해 성황을 이뤘다.
이날 삼성전자 후원 최우수논문상은 양다빈 학석사연계과정생(컴공, 4학년)과 배준영 석사과정 학생이 수상했다. 한국연구재단과 과학기술정보통신부의 연구 결과의 일부분으로 하드웨어 기반의 반도체 보안성 향상이 가능한 초소형 보안 회로 기술을 제안했다.
또 우수논문상은 이가영 학석사연계과정(컴공, 4학년)과 한국광기술원 고명진 연구원에게 돌아갔다. 이들은 과학기술정보통신부 및 정보통신기획평가원의 지역지능화혁신인재양성사업(지능화혁신 G5-AICT)의 연구결과의 일부분으로, 공동 연구를 통해 LED 디스플레이의 신뢰성 향상 기법을 제안했다.
한국테스트 학술대회는 한국반도체테스트학회가 매년 주관하는 행사로, 삼성전자, SK하이닉스, LG전자 등 국내외 34개 기업이 후원하고 관련 업체와 학계 연구자들이 참여하는 국내 유일의 반도체 테스트 전문 학술대회다.
나호정 기자 hojeong9983@aitimes.com
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